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LL2012-FHLR33J データシートの表示(PDF) - Unspecified

部品番号
コンポーネント説明
一致するリスト
LL2012-FHLR33J
ETC
Unspecified ETC
LL2012-FHLR33J Datasheet PDF : 6 Pages
1 2 3 4 5 6
Multilayer and Thick FilmChip Inductors 積層・厚膜チップインダクタ
SOLDERING CONDITIONSはんだ付け条件
Recommended Pattern
はんだ付け推奨パターン
c
b
a
b
Pattern dimensions (unit; mm)
LL2012 series
LL1608 series
LL1005 & LLP1005 series
Flow soldering Reflow soldering Flow soldering Reflow soldering
Reflow soldering
a
1.0~1.4
1.0~1.2
0.8~1.0
0.7
0.4
b
0.8~1.2
0.6~1.0
0.8~1.0
0.6~0.8
0.4~0.5
c
0.8~1.0
0.8~1.2
0.6~0.8
0.6~0.8
0.45~0.55
LLV0603 series
Reflow soldering
0.25
0.18~0.22
0.30~0.35
Conditions for soldering temperatures are determined as per figures below after prior confirmation that abnormalities are not
evident.
はんだ付け温度条件は下図を基準とし事前に「異常がない」ことを確認の上、条件を決めて下さい。
Flow Soldering
7s.
230±5°C
Reflow Soldering
240°C
20s. 225°C
Soldering Iron
2s.
250± 10°C
80±20°C
2min.
140~170°C
80s.
2min.
150± 10°C
2min.
Solder iron power
はんだこて容量:18W
ELECTRICAL CHARACTERISTICS TEST METHOD電気的特性測定方法
1. INDUCTANCE, Q
Test equipment
Impedance analyzer:
4291A/B(Agilent):LL1005-FHL, LL1608-FSL, LL2012-FHL,
LLP1005-FH, LLV0603-FB, LLV0603-F,
Test fixture: 16192A(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL,
LL2012-FHL
16196B(Agilent): LLP1005-FH
16196C(Agilent): LLV0603-FB, LLV0603-F
Test method
Set measuring frequency read inductance and Q value.
2. RDC (DC Resistance)
Test equipment
4338A/B(Agilent) or equivalent
Test method
(1) Place the sample in the test terminals.
(2) Do not place in or pull out the sample while pushing SW.
1. インダクタンス、 Q
使用機器および治具
測定器:4291A/B(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL,
LL2012-FHL, LLP1005-FH,
LLV0603-FB, LLV0603-F
治 具:16192A(Agilent): LL1005-FHL, LL1608-FSL,
LL2012-FHL
16196B(Agilent): LLP1005-FH
16196C(Agilent): LLV0603-FB, LLV0603-F
測定方法
測定周波数をセットし、インダクタンス、Qを読み取る。
2. RDC (直流抵抗)
使用機器および治具の回路
測定器:4338A/B(Agilent)または相当品
測定方法
(1) 端子にチップをセットする。
(2) SWを押した状態でチップを出し入れしてはならない。
Test Circuit
DC RESISTANCE
TESTER
SW
INDUCTOR
SAMPLE
3. Self resonance frequency (S.R.F.)
Test equipment
Network Analyzer: 8719D(Agilent):0.5GHz13.5GHz
8720D(Agilent):13.6GHz20.0GHz
Test Method
Measure the frequency at which the phase of inductive
reactance and capacitive reactance is 0.
測定回路
直流抵抗計
SW
供試
コイル
3. S.R.F.(自己共振周波数)
使用機器
測定器:8719D(Agilent):0.5GHz〜13.5GHzの測定に適用
8720D(Agilent):13.6GHz〜20.0GHzの測定に適用
測定方法
ネットワーク解析によるインピーダンス測定より、誘導性リア
クタンスと容量性リアクタンスの位相が0になる周波数を読み
取る。

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